元素分析
表面分析
太陽能/半導體
通用儀器耗材
DektakXT台階儀(探針式表面輪廓儀)的技術突破,使納米尺度的表面輪廓測量成為可能。
Dektak XTL探針式輪廓儀系統可容納多大350mm*350mm的樣品
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