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藝術與考古分析儀

品 牌:Bruker

産 地:德國

型 号:Tracer

關鍵詞标簽:手持式考古分析儀;手持式藝術分析儀;古陶瓷無損檢測儀;手持式XRF分析儀;藝術與考古分析儀
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       TRACER 5i是Bruker公司2016年底zui新發布的科研型手持式XRF設備,也稱便攜式XRF。是繼原有功能強大的Tracer家族系列後, Bruker發布的更高ji的手持式XRF産品。其性能是市售一般手持式XRF無法比拟的, 在歐美藝術界/考古學/鑒定/修複行業中市場占有率排行第yi, 受到世界知名各大博物館青睐。

 

技術特點及其優勢:

·  TRACER 5i是手持式XRF外觀設計,适合各種場所;同時,又有強大的分析軟件,具有完備的實驗室級别XRF分析儀的強大功能和準确性。

·  光斑用戶可調:有3mm和8mm兩種孔徑的準直器,用戶可以自行更換。

·  用戶可以自己制作/更換濾片以提升元素測量的靈敏度;Bruker提供專用工具用于制作濾片。

·  優良的光束品質:專有的SharpBeam™光束優化專利技術,保證在低功率下也有優良表現

·  具有NASA專利技術的真空泵,可以在設備内部、測量的光路區域形成真空,提升設備對輕質元素如Na、Mg、Al等的靈敏度,特别适合測量玻璃、陶瓷等材質;由于真空是在設備内部的,并不會對被測物體造成不必要的傷害,如出土的絲綢、紙張等材質。真空泵上有真空度顯示,方便用戶識别。

·  元素檢測範圍從Na(11) - U(92), 極限條件下可偵測到F(9) (是市售zui靈敏之便攜式XRF分析儀)。 TRACER 5i專門優化設計了氣體流動通道 - 可提供氦氣(He)吹拂, 或搭配其它氣體來協助分析。

·  控制的多樣性:可以使用設備内建的PDA界面控制,也可以使用PC或者平闆電腦連接控制。

 

行業應用:

金屬分析,廢料分揀,材料可靠性鑒别,采礦與探礦,環境與土壤篩選,藝術與考古,研究與教學
目前在國外有非常多的著名的大博物館、大學、考古研究機構使用它,請參看如下:
1.National Gallery of Art  Washington DC USA美國華盛頓國家藝術館(3台)
2.Smithsonian Institution USA and Panama美國和巴拿馬史密森學會(8台)
3.Getty Museum Los Angles USA美國洛杉矶蓋蒂博物館(3台)
4.Metropolitan Museum of Art New York City USA美國紐約市大都會藝術博物館(3台)
5.The British Museum London England 英國倫敦大英博物館(1台)
6.Historic Scotland Edinburg Scotland蘇格蘭愛丁堡曆史蘇格蘭(1台)
7.American Natural History Museum New York City USA美國紐約市紐約自然曆史博物館(2台)
8.National Gallery of Art Canberra Australia 澳大利亞堪培拉國家藝術館(2台)
9.C2RMF Laboratoire de recherche des musées de France (LRMF) Paris France法國巴黎羅浮宮(1台)Tracer III-SD system

 

 

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